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納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

簡(jiǎn)要描述:核心優(yōu)勢(shì)1:自主研發(fā)的薄片激光技術(shù)實(shí)現(xiàn)了大視野成像,對(duì)比傳統(tǒng)裝置將觀測(cè)視野擴(kuò)大至275倍,即使在低濃度范圍(1萬(wàn)~1000萬(wàn)個(gè)/ml)下,仍可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定觀測(cè)與精確測(cè)量。其中BLASE X型號(hào)可實(shí)現(xiàn)數(shù)量濃度高達(dá)10億個(gè)/ml的測(cè)量(10萬(wàn)個(gè)~10億個(gè)/ml)。
核心優(yōu)勢(shì)2:利用區(qū)域劃分算法,將大視野分割為多個(gè)觀測(cè)區(qū)域同時(shí)測(cè)量,獲取多個(gè)平行樣本數(shù)據(jù),可精確評(píng)估氣泡粒徑的分布均勻性。

  • 產(chǎn)品型號(hào):BLASE系列
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2026-07-17
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:322
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,農(nóng)林牧漁

BLASE系列納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

BLASE系列納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置


、BLASE系列裝置介紹

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

二、產(chǎn)品的技術(shù)優(yōu)勢(shì)

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

三、大視野成像

1、觀測(cè)視野的差異

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

2、低濃度粒子測(cè)量

PSL標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm 1? 1.8×105(10萬(wàn)個(gè))的拍攝畫(huà)面

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

3、中~高濃度粒子測(cè)量

PSL標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm 1? 2×107(2000萬(wàn)個(gè))的拍攝畫(huà)面

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

四、多區(qū)域觀測(cè)

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

五、FBIA(日本微納米氣泡產(chǎn)業(yè)會(huì))標(biāo)準(zhǔn)

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

六、納米氣泡測(cè)量的比色皿

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

七、納米氣泡測(cè)量過(guò)程

1、數(shù)量濃度的測(cè)量畫(huà)面

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

2、粒徑的測(cè)量方法

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

3、粒徑的測(cè)量畫(huà)面

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

4、測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)告

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

八、售后服務(wù)解決方案

1、安裝調(diào)試與培訓(xùn)

- 專(zhuān)業(yè)人員安裝調(diào)試,確保設(shè)備最佳運(yùn)行狀態(tài)。

- 提供全面的設(shè)備操作及維護(hù)保養(yǎng)培訓(xùn)。

2、服務(wù)響應(yīng)時(shí)效

- 7*12小時(shí)提供咨詢(xún)、售后熱線(xiàn)服務(wù)。

- 1小時(shí)內(nèi)極速響應(yīng),48小時(shí)內(nèi)遠(yuǎn)程診斷故障,72小時(shí)內(nèi)出具故障修復(fù)方案。

3、設(shè)備維修服務(wù)

- 軟件:實(shí)施遠(yuǎn)程修復(fù)故障及系統(tǒng)升級(jí)。

- 硬件:上門(mén)維修或返廠(chǎng)維修或更換硬件(耗材除外)。

- 質(zhì)保期內(nèi)免費(fèi)維修服務(wù),終身技術(shù)支持。

九、認(rèn)證與獎(jiǎng)項(xiàng)

1、FBIA:納米氣泡測(cè)量裝置Lab認(rèn)證

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

2、日本機(jī)械學(xué)會(huì)  技術(shù)獎(jiǎng)

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

3、第38回中小企業(yè)優(yōu)秀新技術(shù)-新制品  表彰獎(jiǎng)

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置

4、中小企業(yè)廳長(zhǎng)官獎(jiǎng)

納米顆粒和納米氣泡測(cè)量裝置


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